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La plate forme CEM mutualise des moyens de tests et d'essais CEM (compatibilité électromagnétique) s'appliquant aux grands systèmes et des méthodes de brassage en susceptibilité et en émission, permettant de mener au profit d'industriels et de laboratoires nationaux et internationaux, des recherches partenariales mais également des procédures de validations et certifications.
CISPR25, ISO7637, ISO11452, ISO 10605, EN55022, EN61000-4-(2 Ã 21), CDC AUTOMOBILE & AERONAUTIQUE.
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| Chambre semi-anéchoïque jusqu'à 40 GHz |
| Chambre anéchoïque pour l'automobile et systèmes électroniques embarqués encombrants, avec banc à rouleaux jusqu'à 18 Ghz, pouvant accueillir un véhicule en fonctionnement |
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| Chambre réverbérante à brassage de mode pour l'aéronautique |
Le développement des moyens d’essais de mesures en champ proche a été initié par le groupe de travail « électromagnétisme » de la filière Normandie AéroEspace. Ces travaux ont montré que les techniques de mesures en champ proche pouvaient être très intéressantes pour étudier les contraintes liées à la CEM afin d’assurer une cohabitation sereine intra et inter systèmes. Ainsi, en 2002, le projet de développement des techniques de mesures en champ proche a été confié à l’IRSEEM dans le cadre de la filière Normandie AéroEspace. Ce travail a été appuyé par les industriels THALES AIR SYSTEMS et COMPAGNIE DEUSTCH et soutenu par la Région Haute-Normandie. Actuellement l’IRSEEM dispose de deux bancs de mesures en champ proche permettant de faire des cartographies planaires (2D et 3D) pour systèmes et pour composants. Ces deux bancs permettent de faire des mesures des six composantes du champ électromagnétique en amplitude ou en amplitude et phase et de caractériser des éléments variés : circuit intégré, connecteur, carte de puissance, carte électronique rapide, circuit hyperfréquence, moteur électrique, câblage, … La chaine d’acquisition est composée d’un analyseur de spectre ou d’un analyseur de réseaux (2 ports ou 4 ports pour des mesures différentielles). Les sondes, méthodes de calibrage et de post-traitement associées sont développées au laboratoire. Ces bancs de mesures sont également utilisés pour faire des caractérisations localisées en immunité de cartes et composants.
Fabrice Duval
fabrice.duval@esigelec.fr
Christophe Fauconnier
christophe.fauconnier@esigeles.fr